Экспериментальное оборудование и вычислительное ресурсы лаборатории МММ

1. Сверхвысоковакуумный технологический комплекс для синтеза MAX-материалов

2. Спектральный эллипсометр ЛЭФ-32М, оснащённый электромагнитом (от -1.5 T до 1.5 T) – исследование оптических и магнитооптических свойств получаемых образцов.
3. Установка магнитооптического эффекта Керра NanoMOKE 2, с возможностью исследования полевых зависимостей эффекта Керра в широком диапазоне температур (2-300 K) – исследование магнитной анизотропии в плоскости подложки.
4. Электронный микроскоп Hitachi SU3500 / Model SU3500, оснащённый системами EDX, EBSD, WDX – проведение локального фазового и химического анализа гибридных нанокристаллов.
5. Сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения S-5500 (Hitachi, Япония, – исследование морфологии получаемых ансамблей гибридных нанокристаллов.
6. Просвечивающий электронный микроскоп HT7700 (Hitachi, Япония) - исследование структуры интерфейса полученных наноструктур будет проведено на поперечных срезах образцов методами просвечивающей электронной микроскопии: светлопольной микроскопии, темнопольной микроскопии, высокоразрешающей электронной микроскопии, ускоряющие напряжение 120кВ, оснащенного ЭД спектрометром 6T/60 (Bruker, Германия).
7. Установка исследования физических свойств материалов PPMS 6000 (Quantum Design, США)- проведение измерений температурных зависимостей намагниченности получаемых образцов гибридных нанокристаллов.
8. Эпитаксиальные соотношения слоёв и подложек, а также фазовый анализ наноструктур исследуется с использованием возможностей рентгеновского дифрактометра PANalytical X’Pert PRO, оснащенного твердотельным детектором PIXcel и дифрактометра порошковом дифрактометре D8 ADVANCE (Cu Kальфа1,2 - излучение, Ni фильтр) с линейным детектором VANTEC.
9. Атомно-силовой микроскоп NANOINK. Inc DPN 5000 – проведение измерений атомно-силовой микроскопии.
10. Рентгенофлуоресцентный спектрометр Pioneer S4 (Bruker, Германия) – проведение количественного макроскопического анализ химического состава, получаемых образцов.
11. ЭПР Фурье-спектрометр Bruker Elexsys E580 - регистрация спектров ЭПР в импульсном и непрерывном режимах, для исследования парамагнитных центров различной природы, определение их спектральных характеристик и содержания.
12. Широкополосный ИК Фурье-спектрометр с гелиевой приставкой Vertex 80 (Bruker, Германия, 2010) - cпектрометр предназначен для измерения спектров пропускания, поглощения, отражения, нарушенного отражения, диффузного, полного внутреннего отражения, отражения под фиксированным или регулируемым углом, жидких, твердых, порошкообразных и пленочных микро- и макрообразцов.
13. Оригинальная авторская методика на основе метода лазерной эллипсометрии расчёт эффективной толщины растущих наноструктур и оптических характеристик коллективом [Тарасов, И.А. Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO₂/Si(100) / И.А. Тарасов, Н.Н. Косырев, С.Н. Варнаков, С.Г. Овчинников, С.М. Жарков, В.А. Швец, С.Г. Бондаренко, О.Е. Терещенко // ЖТФ. – 2012. – Т. 82. – С. 44].
14. Оригинальная авторская методика расчёта магнитооптических параметров и недиагональных компонент тензора диэлектрической проницаемости [Maximova, O. A. In situ magneto-optical ellipsometry data analysis for films growth control / O.A. Maximova, N.N. Kosyrev, S.N. Varnakov, S.A. Lyaschenko, I.A. Yakovlev, I.A. Tarasov, D.V. Shevtsov, O.M. Maximova, S.G. Ovchinnikov // Journal of Magnetism and Magnetic Materials. – 2017. – In Press DOI: 10.1016/j.jmmm.2016.12.050].
15. Лицензионный пакет прикладных программ для решения задач технических вычислений MATLAB – 2016b