Экспериментальное научное оборудование лаборатории кристаллофизики
Технологическое оборудование:
- Установка для выращивания монокристаллов методом Чохральского НХ-600
- Комплекс оригинальных установок для выращивания кристаллов методом Бриджмена
- Кристаллизаторы для выращивания из водных растворов.Комплекс оборудования для твердофазного синтеза
Оборудование для исследований физических свойств:
- Три автоматизированных адиабатических калориметра, позволяющие проводить прецизионные исследования теплоемкости твердых тел в интервале температур от гелиевых до 370 К, а также в магнитном (6 кЭ) и электрическом (2 кВ/см) полях.
- Установки для исследования температурных зависимостей диэлектрической проницаемости и пироэлектрического тока.
- Автоматизированный дифференциальный сканирующий микрокалориметр ДСМ-10, предназначенный для измерения теплоемкости и тепловых эффектов в твердых и жидких материалах в диапазоне температур от 100 до 750 К.
- Установка для исследования фазовых диаграмм температура – давление методом дифференциально-термического анализа и путем измерения диэлектрической проницаемости. Диапазон температур 100-370 К. Диапазон давлений 0 – 6 Кбар.
- *Индукционный дилатометр DIL-402C фирмы NETZSCH для исследования теплового расширения в температурном диапазоне 100 − 960 K
- Поляризационный микроскоп AxioLab 4– определение сингонии и законов двойникования в интервале температур 77-800 К с фиксированием процессов цифровой камерой высокого разрешения.
- Установка для измерения двупреломления кристаллов – обнаружение и исследование аномалий с высокой чувствительностью ~10–8 в диапазоне температур 100–650 К, в частности, под воздействием электрического поля.
- *Монокристальный трехкружный дифрактометр SMART APEX II фирмы Bruker с двухкоординатным детектором для сбора дифракционных данных с монокристаллических объектов размером менее 0.5 мм. Позволяет установить и уточнить модель структуры кристаллов.
- *Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (BRUKER AXS, Германия, 2000) предназначен для сбора дифракционных данных с порошкообразных объектов. Позволяет установить и уточнить модель структуры кристаллов.
(*-приборы входящие в состав ЦКП КНЦ СО РАН)