Порошковый дифрактометр D8 ADVANCE
Порошковый дифрактометр предназначен для количественного и качественного рентгеноструктурного анализа
Изготовитель: Bruker AXS GmbH, Germany. Эксплуатируется в рамках ЦКП КНЦ СО РАН
Назначение и технические характеристики
Порошковый дифрактометр предназначен для количественного и качественного рентгеноструктурного анализа, индицирования и определения параметров ячейки, определения размеров кристаллитов, определения микронапряжений в образце, определения степени кристалличности, определение структур и их уточнение методом Ритвельда.
Основные характеристики:
- спользуемое излучение: CuKα;
- детектор: точечный или линейный VANTEC (захват интервала 2θ в 8°);
- типы возможных образцов: поликристаллы, керамика, таблетки, пленки, полимеры, ситаллы, стекла;
- геометрия: Брегга-Брентано,максимально возможный угловой интервал –110 < 2θ < 167;
- имеется температурная приставка Anton Paar TTK450;
- интервал температур от –160 до 450°С.
Экспериментальная и теоретически рассчитанная рентгенограммы, и их разность.