Зондовый микроскоп Veeco MultiMode NanoScope IIIa SPM System
Система позволяет проводить исследования топографии поверхности, шероховатости, распределения частиц по размерам и высоте
Эксплуатируется в научно-образовательном центре «Наноразмерные и перспективные материалы и нанотехнологии» СФУ – ИФ СО РАН
Назначение и технические характеристики
Используя различные измерительные компоненты, система позволяет проводить исследования топографии поверхности, шероховатости, распределения частиц по размерам и высоте и т. д., выполнять измерения магнитных характеристик, например, доменной структуры, а также исследования микроскопии сопротивления растекания.
Модульная измерительная система включает в себя:
- атомно-силовой микроскоп,
- сканирующий-тунельный микроскоп,
- магнито-силовой микроскоп,
- микроскоп сопротивления растекания.
Имеются возможности проведения комплексных исследований различных образцов на площади от 1 нм x 1нм до 125 мкм x 125 мкм, с разрешением до 1 нм для АСМ, вплоть до атомного разрешения для СТМ.