Зондовый микроскоп Veeco MultiMode NanoScope IIIa SPM System

Система позволяет проводить исследования топографии поверхности, шероховатости, распределения частиц по размерам и высоте

Зондовый микроскоп
Veeco MultiMode NanoScope IIIa SPM System

Эксплуатируется в научно-образовательном центре «Наноразмерные и перспективные материалы и нанотехнологии» СФУ – ИФ СО РАН

Назначение и технические характеристики

Используя различные измерительные компоненты, система позволяет проводить исследования топографии поверхности, шероховатости, распределения частиц по размерам и высоте и т. д., выполнять измерения магнитных характеристик, например, доменной структуры, а также исследования микроскопии сопротивления растекания.

Модульная измерительная система включает в себя:

  • атомно-силовой микроскоп,
  • сканирующий-тунельный микроскоп,
  • магнито-силовой микроскоп,
  • микроскоп сопротивления растекания.

Имеются возможности проведения комплексных исследований различных образцов на площади от 1 нм x 1нм до 125 мкм x 125 мкм, с разрешением до 1 нм для АСМ, вплоть до атомного разрешения для СТМ.