Настольный электронный микроскоп TM-3000

Настольный электронный микроскоп TM-3000

Настольный электронный микроскоп TM-3000

Технические характеристики ТМ-3000

Размер: 303х584х565 см
Ускоряющее напряжение: 5кВ, 15кВ
Увеличение: х15-30 000
Разрешение: 30 нм
Глубина резкости: 1 мм
Детектор: Четырехсегментный твердотельный детектор обратнорассеяных электронов
Столик образца: подвижный, диапазон перемещения по оси X - 0 ~ 35 мм, по оси Y - 0 ~ 35 мм
Максимальный размер образца: 70 мм в диаметре, 50 мм в высоту
Режимы: обычный 1 ~ 15 Па, низкого вакуума 30 ~ 50 Па
Система откачки воздуха: турбомолекулярный насос и насос с диафрагмой, время откачки до рабочего давления 3 минуты.

 

Сканирующий электронный микроскоп ТМ-3000 незаменим для образовательных учреждений и мобильных лабораторий. Может использоваться для исследований и рутинных работ в:

  • медицине и биологии
  • криминалистике
  • материаловедении
  • химии
  • фармацевтике
  • почвоведении и многих других областях.

Преимущества новой модели TM-3000 по сравнению с предыдущей моделью TM-1000:

  • В три раза возросло увеличение - до х30000.
  • В два раза увеличена глубина резкости - до 1мм.
  • Лучше разрешение (~30 нм) позволяет получить более четкое изображение с большим количеством деталей.
  • Больше предельные размеры образца: диам 70 м, высота 50 мм.
  • Ускоряющее напряжение 5 кВ и 15 кВ.
  • Уменьшены габариты микроскопа.

Режимы низкого или высокого вакуума и ускоряющее напряжение 5 кВ или 15 кВ позволяют подобрать условия для исследования практически любых образцов без предварительной пробоподготовки. Удобный графический пользовательский интерфейс и невероятная простота в обслуживании действительно делают этот прибор надежным помощником в обучении и в решении аналитических задач в лабораторных и полевых условиях. Микроскоп может оснащаться приставкой рентгеновского микроанализа, позволяющей получать информацию о химическом составе исследуемого объекта.

Пробоподготовка образцов для SEM и TEM

Система тонкой ионной полировки образцов
Gentle Mill 3 Hi

Система тонкой ионной полировки образцов Gentle Mill 3 Hi

Обрабатывает поверхность образцов низкоэнергетическим ионным пучком. Снимает аморфизованные поверхностные слои, повреждения, вызванные механической обработкой. Позволяет наблюдать реальную поверхность, без искажений.

Устройство напыления высокого разрешения K575XD

Устройство напыления высокого разрешения K575XD

Компактная система напыления с двумя головками и турбомолекулярной откачкой, оптимизированная для отложения тонкозернистых пленок хрома и других металлов, для целей SEM, и тонкопленочных приложений. Две испарительные головки для последовательного многослойного напыления.

шлифовально-полировальные станки шлифовально-полировальные станки Прецизионные отрезные шлифовально-полировальные станки, для приготовления срезов любых материалографических и керамических образцов. Система вакуумной пропитки пористых материалов различными смолами. Система электролитической полировки.